Quantitative X-ray Spectrometry
Ron Jenkins
This thoroughly revised and updated Second Edition of an incomparable hands-on reference covers every important aspect of x-ray spectrometry -- from basic principles to the selection of instrument parameters and sample preparation.
Категорії:
Рік:
1995
Видання:
2nd ed
Видавництво:
M. Dekker
Мова:
english
Сторінки:
475
ISBN 10:
0824795547
ISBN 13:
9780824795542
Серії:
Practical spectroscopy 20
Файл:
DJVU, 13.30 MB
IPFS:
,
english, 1995