Дифракционный анализ
Анищик В.М., Понарядов В.В., Углов В.В.
Рассмотрены основные положения физики рентгеновских лучей, рентгенотехники, теории дифракции рентгеновских лучей и электронов. Изложены основные методы структурного анализа и его практического применения для исследования кристаллов.;Гриф:Гриф Министерства образования. Учебное пособие
Рік:
2011
Видавництво:
Издательство "Вышэйшая школа"
Мова:
russian
Сторінки:
215
ISBN 10:
9850618345
ISBN 13:
9789850618344
Файл:
PDF, 1.45 MB
IPFS:
,
russian, 2011
Litres
Чи бажаєте додати книгарню? Зв'яжіться з нами за support@z-lib.do
Конвертуйте файли
Більше результатів пошуку
Інші переваги Ключові фрази
Пов’язані вибірки
