Методы исследования материалов и процессов. Часть 2. Световая и электронная микроскопия
Арисова В.Н.
Учебное пособие. — Волгоград: ВолгГТУ, 2009. — 99 с.Представлены сведения по металлографическому и электронно-микроскопическому анализам исследования материалов. Приведены физические принципы методов, аппаратура, результаты исследований.
Мова:
russian
Файл:
PDF, 2.27 MB
IPFS:
,
russian0
Litres
Чи бажаєте додати книгарню? Зв'яжіться з нами за support@z-lib.do
Конвертуйте файли
Більше результатів пошуку
Інші переваги 
