Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024
Про збір коштів
пошук книг
книги
Пожертвування:
28.1% досягнуто
Увійти
Увійти
авторизованим користувачам доступні:
персональні рекомедації
Telegram бот
історія завантажувань
надіслати на Email чи Kindle
управління добірками
зберігання у вибране
Особисте
Запити на книги
Вивчення
Z-Recommend
Перелік книг
Найпопулярніші
Категорії
Участь
Підтримати
Завантаження
Litera Library
Пожертвувати паперові книги
Додати паперові книги
Search paper books
Мій LITERA Point
Пошук ключових слів
Main
Пошук ключових слів
search
1
Entwurf selbsttestbarer Schaltungen
Vieweg+Teubner Verlag
Priv.-Doz. Dr. Albrecht P. Ströle (auth.)
schaltung
bild
muster
fehler
testregister
knoten
urn
proc
schaltungen
flir
zustand
conference
aile
anzahl
falls
fiir
testsitzungen
kompaktierung
mustererzeugung
ftir
zellen
abschnitt
siehe
verfahren
wahrscheinlichkeit
zahl
gleichen
menge
automaten
synthese
mub
signaturregister
gilt
signaturen
testeinheiten
zelle
tabelle
flipflops
lrsr
gleiche
scan
tiber
zyklen
defekte
transactions
priifpfad
bzw
getestet
primaren
testantworten
Рік:
1998
Мова:
german
Файл:
PDF, 9.56 MB
Ваші теги:
0
/
0
german, 1998
2
Test digitaler Schaltkreise
De Gruyter Oldenbourg
Stephan Eggersglüß
,
Görschwin Fey
,
Ilia Polian
fehler
wert
testmuster
schaltung
beispiel
abbildung
gatter
scan
werte
ausgang
testmustergenerierung
schaltkreis
verfahren
schaltungen
haftfehler
algorithmus
eingang
anzahl
somit
fault
eingänge
engl
eingängen
simulation
schaltkreises
zustand
primären
tests
entdeckt
speicherzellen
testmenge
diagnose
atpg
gatters
fehlersimulation
muster
tabelle
eingesetzt
bezeichnet
beziehungsweise
conference
fehlern
grenze
abschnitt
fehlermodelle
leitung
menge
erzeugt
folgenden
werten
Рік:
2014
Мова:
german
Файл:
PDF, 1.21 MB
Ваші теги:
0
/
0
german, 2014
3
Test digitaler Schaltkreise
De Gruyter Oldenbourg
Stephan Eggersglüß
,
Görschwin Fey
,
Ilia Polian
fehler
wert
testmuster
schaltung
beispiel
abbildung
scan
gatter
werte
ausgang
verfahren
schaltkreis
testmustergenerierung
schaltungen
haftfehler
anzahl
somit
eingang
fault
eingänge
engl
algorithmus
schaltkreises
simulation
eingängen
primären
tests
zustand
entdeckt
speicherzellen
atpg
gatters
testmenge
tabelle
eingesetzt
bezeichnet
beziehungsweise
conference
abschnitt
fehlern
diagnose
muster
leitung
menge
erzeugt
folgenden
werten
testmustern
transactions
daher
Рік:
2014
Мова:
german
Файл:
EPUB, 3.31 MB
Ваші теги:
0
/
0
german, 2014
1
Перейдіть за
цим посиланням
або знайдіть бот "@BotFather" в Telegram
2
Надішліть команду /newbot
3
Вкажіть ім'я для вашого боту
4
Вкажіть ім'я користувача боту
5
Скопіюйте останнє повідомлення від BotFather та вставте його сюди
×
×